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テストと信頼性

樹下行三編著. -- オ-ム社, 1982. -- (マイクロコンピュ-タ基礎講座). <BB00085531>
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テストと信頼性

樹下行三編著. -- オ-ム社, 1982. -- (マイクロコンピュ-タ基礎講座). <BB00085531>
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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 中央館 3F-東
 		548.2/KI 0111189134579 通常 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 中央館
配置場所 3F-東
請求記号 548.2/KI
資料ID 0111189134579
状態 通常
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 テストと信頼性 / 樹下行三編著
テスト ト シンライセイ
出版・頒布事項 東京 : オ-ム社 , 1982.4
形態事項 218p ; 22cm
書誌構造リンク マイクロコンピュ-タ基礎講座||マイクロ コンピュ-タ キソ コウザ 5||5//a
注記 監修:石井治,相磯秀夫
注記 参考文献:p209〜214
学情ID BN00609041
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 樹下, 行三(1936-)
キノシタ, コウゾウ
分類標目 NDC:548.2
分類標目 NDC:007.6
分類標目 科学技術 NDLC:M154
件名標目等 電子計算機
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