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半導体デバイスの不良・故障解析技術

二川清編著 ; 上田修, 山本秀和著. -- 日科技連出版社, 2019. -- (信頼性技術叢書). <BB30357352>
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半導体デバイスの不良・故障解析技術

二川清編著 ; 上田修, 山本秀和著. -- 日科技連出版社, 2019. -- (信頼性技術叢書). <BB30357352>
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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 中央館 研究室-工
 		549.8/HA 0312023099376 通常 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 中央館
配置場所 研究室-工
請求記号 549.8/HA
資料ID 0312023099376
状態 通常
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 半導体デバイスの不良・故障解析技術 / 二川清編著 ; 上田修, 山本秀和著
ハンドウタイ デバイス ノ フリョウ コショウ カイセキ ギジュツ
出版・頒布事項 東京 : 日科技連出版社 , 2019.12
形態事項 viii, 218p, 図版 [2] p : 挿図 ; 21cm
巻号情報
ISBN 9784817196859
書誌構造リンク 信頼性技術叢書||シンライセイ ギジュツ ソウショ <BB30279282>//a
その他の標題 異なりアクセスタイトル:半導体デバイスの不良故障解析技術
ハンドウタイ デバイス ノ フリョウ コショウ カイセキ ギジュツ
注記 監修: 信頼性技術叢書編集委員会
注記 参考文献: 章末
学情ID BB29632856
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 二川, 清 (1949-)||ニカワ, キヨシ <AU10154767>
著者標目リンク 上田, 修 (1950- 工学)||ウエダ, オサム <AU10181473>
著者標目リンク 山本, 秀和||ヤマモト, ヒデカズ <AU10070244>
著者標目リンク 信頼性技術叢書編集委員会||シンライセイ ギジュツ ソウショ ヘンシュウ イインカイ <AU10178356>
分類標目 電子工学 NDC8:549.8
分類標目 電子工学 NDC9:549.8
分類標目 電子工学 NDC10:549.8
件名標目等 半導体||ハンドウタイ
件名標目等 信頼性(工学)||シンライセイ(コウガク)
件名標目等 半導体 -- 品質管理||ハンドウタイ -- ヒンシツカンリ
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