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VLSI design and test for systems dependability

Shojiro Asai editor. -- Springer, 2019. <BB30292217>
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VLSI design and test for systems dependability

Shojiro Asai editor. -- Springer, 2019. <BB30292217>
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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 中央館 研究室-工
 		549.7/AS 0312018092552 通常 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 中央館
配置場所 研究室-工
請求記号 549.7/AS
資料ID 0312018092552
状態 通常
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 VLSI design and test for systems dependability / Shojiro Asai editor
出版・頒布事項 Tokyo : Springer , c2019
形態事項 xvii, 800 p. : ill. (some col.) ; 25 cm
巻号情報
ISBN 9784431565925
学情ID BB27514542
本文言語コード 英語
著者標目リンク Asai, Shojiro <>
分類標目 DC23:621.395
件名標目等 Integrated circuits -- Very large scale integration
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