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Test and diagnosis for small-delay defects

Mohammad Tehranipoor, Ke Peng, Krishnendu Chakrabarty. -- Springer, 2011. <BB30226814>
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Test and diagnosis for small-delay defects

Mohammad Tehranipoor, Ke Peng, Krishnendu Chakrabarty. -- Springer, 2011. <BB30226814>
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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 中央館 研究室-工
 		549.7/SY 0312014056048 通常 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 中央館
配置場所 研究室-工
請求記号 549.7/SY
資料ID 0312014056048
状態 通常
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Test and diagnosis for small-delay defects / Mohammad Tehranipoor, Ke Peng, Krishnendu Chakrabarty
出版・頒布事項 New York : Springer , c2011
形態事項 xviii, 212 p. : ill. ; 24 cm.
巻号情報
ISBN 9781441982964
学情ID BB0887100X
本文言語コード 英語
著者標目リンク *Tehranipoor, Mohammad H. <>
著者標目リンク Peng, Ke <>
著者標目リンク Chakrabarty, Krishnendu <AU10123117>
分類標目 DC22:621.3950287
件名標目等 Integrated circuits -- Very large scale integration -- Defects
件名標目等 Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing
件名標目等 Delay faults (Semiconductors)
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