愛媛大学図書館
ログイン
  • 目録検索 目録検索 ▼
  • 利用者サービス Webサービス ▼
    • 利用状況・貸出延長
    • ブックマーク
    • お気に入り検索
    • レビュー履歴
    • タグ履歴
    • グループ学習室予約履歴
    • 新着アラート
    • ILL複写依頼
    • ILL貸借依頼
    • リクエスト(希望図書)

愛媛大学図書館

検索結果一覧へ戻る

2008 IEEE International Test Conference (ITC) : Santa Clara, California, 28-30 October, 2008

Pages 1-534, Pages 535-1062. -- Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2008. <BB00379862>
登録タグ：
登録されているタグはありません
便利機能：
レビューを見る 詳細情報を見る
書誌URL：

2008 IEEE International Test Conference (ITC) : Santa Clara, California, 28-30 October, 2008

Pages 1-534, Pages 535-1062. -- Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2008. <BB00379862>
登録タグ：
登録されているタグはありません
便利機能：
レビューを見る 詳細情報を見る
書誌URL：

所蔵一覧 1件～2件（全2件）

No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 Pages 1-534 中央館 研究室-工
 		549.7/IN/2008(1) 0312009008492 通常 0件
0002 Pages 535-1062 中央館 研究室-工
 		549.7/IN/2008(2) 0312009008509 通常 0件
No. 0001
巻号 Pages 1-534
所蔵館 中央館
配置場所 研究室-工
請求記号 549.7/IN/2008(1)
資料ID 0312009008492
状態 通常
返却予定日
予約 0件
No. 0002
巻号 Pages 535-1062
所蔵館 中央館
配置場所 研究室-工
請求記号 549.7/IN/2008(2)
資料ID 0312009008509
状態 通常
返却予定日
予約 0件
このページのTOPへ

書誌詳細

標題および責任表示 2008 IEEE International Test Conference (ITC) : Santa Clara, California, 28-30 October, 2008
出版・頒布事項 Piscataway, N.J. : Institute of Electrical and Electronics Engineers , c2008
形態事項 2 v. : ill. ; 28 cm
巻号情報
巻次等 Pages 1-534
ISBN 9781424424023
巻号情報
巻次等 Pages 535-1062
ISBN 9781424424023
注記 IEEE Catalog Number: CEP08ITC-PRT
注記 Includes bibliographical references and index
学情ID BA89307051
本文言語コード 英語
著者標目リンク Institute of Electrical and Electronics Engineers <AU00092674>
著者標目リンク International Test Conference <AU00002977> (2008 : Santa Clara, California)
このページのTOPへ
検索結果一覧へ戻る
このページのTOPへ

  • 関連情報

    関連資料

    他の検索サイトで探す

    他大学資料確認

    資料を取り寄せる

    • コピーの取り寄せ(コピー取り寄せ)
    • 図書の取り寄せ(現物借用)

    購入依頼

    この書誌のQRコード