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Applied pattern recognition

Horst Bunke, Abraham Kandel, Mark Last (eds.). -- Springer, 2008. -- (Studies in computational intelligence ; v. 91). <BB00368114>
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Applied pattern recognition

Horst Bunke, Abraham Kandel, Mark Last (eds.). -- Springer, 2008. -- (Studies in computational intelligence ; v. 91). <BB00368114>
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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 中央館 研究室-工
 		007.13/ST/91 0312008109173 通常 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 中央館
配置場所 研究室-工
請求記号 007.13/ST/91
資料ID 0312008109173
状態 通常
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Applied pattern recognition / Horst Bunke, Abraham Kandel, Mark Last (eds.)
出版・頒布事項 Berlin : Springer , c2008
形態事項 xi, 245 p. : ill. (some col.) ; 25 cm
巻号情報
ISBN 9783540768302
書誌構造リンク Studies in computational intelligence <BB00359381> v. 91//a
注記 Includes bibliographical references
学情ID BA86010919
本文言語コード 英語
著者標目リンク Bunke, Horst <AU00003215>
著者標目リンク Kandel, Abraham <AU00003216>
著者標目リンク Last, Mark <AU00060657>
分類標目 LCC:QA
分類標目 DC22:006.4
件名標目等 Pattern recognition systems
件名標目等 Computer vision
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