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Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis

Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury ... [et al.]. -- 3rd ed. -- Springer Science, 2003. <BB30277450>
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Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis

Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury ... [et al.]. -- 3rd ed. -- Springer Science, 2003. <BB30277450>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 中央館 2F-洋書
 		549.97/SC 0312017004801 通常 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 中央館
配置場所 2F-洋書
請求記号 549.97/SC
資料ID 0312017004801
状態 通常
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis / Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury ... [et al.]
版事項 3rd ed
出版・頒布事項 New York : Springer Science , c2003
形態事項 xix, 690 p. : ill.(some col.) ; 26 cm. + 1 computer laser optical disc
巻号情報
ISBN 9780306472923
注記 Include subject index
学情ID BA84769592
本文言語コード 英語
著者標目リンク Goldstein, Joseph, 1939- <AU10037740>
著者標目リンク Newbury, Dale E. <AU10153981>
件名標目等 Scanning electron microscopy
件名標目等 X-ray microanalysis
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