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System-on-chip test architectures : nanometer design for testability
edited by Laung-Terng Wang, Charles E. Stroud, Nur A. Touba. -- Morgan Kaufmann Pub., 2008. -- (The Morgan Kaufmann series in systems on silicon / Peter J. Ashenden, Wayne Wolf, series editors). <BB30059479>
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System-on-chip test architectures : nanometer design for testability
edited by Laung-Terng Wang, Charles E. Stroud, Nur A. Touba. -- Morgan Kaufmann Pub., 2008. -- (The Morgan Kaufmann series in systems on silicon / Peter J. Ashenden, Wayne Wolf, series editors). <BB30059479>
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50件
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No.
巻号
所蔵館
配置場所
請求記号
資料ID
状態
返却予定日
予約
0001
中央館
2F-洋書
549.7/SY
0312011073606
通常
0件
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0001
巻号
所蔵館
中央館
配置場所
2F-洋書
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549.7/SY
資料ID
0312011073606
状態
通常
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0件
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書誌詳細
標題および責任表示
System-on-chip test architectures : nanometer design for testability / edited by Laung-Terng Wang, Charles E. Stroud, Nur A. Touba
出版・頒布事項
Burlington, Mass. : Morgan Kaufmann Pub. , c2008
形態事項
xxxvi, 856 p. : ill. ; 24 cm
巻号情報
ISBN
9780123739735
書誌構造リンク
The Morgan Kaufmann series in systems on silicon / Peter J. Ashenden, Wayne Wolf, series editors <BB00346499>//a
注記
Includes bibliographical references and index
学情ID
BA83999837
本文言語コード
英語
著者標目リンク
Wang, Laung-Terng <>
著者標目リンク
Stroud, Charles E. <>
著者標目リンク
Touba, Nur <>
分類標目
LCC:TK7895.E42
分類標目
DC22:621.39/5
件名標目等
Systems on a chip -- Testing
件名標目等
Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing
件名標目等
Integrated circuits -- Very large scale integration -- Design
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