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Defect-oriented testing for nano-metric CMOS VLSI circuits

by Manoj Sachdev and José Pineda de Gyvez. -- 2nd ed.. -- Springer, 2007. -- (Frontiers in electronic testing ; 34). <BB00371749>
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Defect-oriented testing for nano-metric CMOS VLSI circuits

by Manoj Sachdev and José Pineda de Gyvez. -- 2nd ed.. -- Springer, 2007. -- (Frontiers in electronic testing ; 34). <BB00371749>
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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 中央館 研究室-工
 		549.7/SA 0312008138264 通常 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 中央館
配置場所 研究室-工
請求記号 549.7/SA
資料ID 0312008138264
状態 通常
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Defect-oriented testing for nano-metric CMOS VLSI circuits / by Manoj Sachdev and José Pineda de Gyvez
版事項 2nd ed.
出版・頒布事項 Dordrecht : Springer , c2007
形態事項 xxi, 328 p. : ill. ; 25 cm
巻号情報
ISBN 9780387465463
書誌構造リンク Frontiers in electronic testing <BB00018670> 34//a
注記 Includes bibliographical references and index
学情ID BA83565054
本文言語コード 英語
著者標目リンク Sachdev, Manoj <AU00062213>
著者標目リンク Pineda de Gyvez, José <AU00062214>
分類標目 SG:620
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