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2006 IEEE International Test Conference : Santa Clara, CA, USA, 22-27 October, 2006

: [set], v. 1, v. 2. -- Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2006. <BB00342603>
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2006 IEEE International Test Conference : Santa Clara, CA, USA, 22-27 October, 2006

: [set], v. 1, v. 2. -- Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2006. <BB00342603>
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所蔵一覧 1件～2件（全2件）

No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 v. 1 中央館 研究室-工
 		549.7/IN/2006(1) 0312007025188 通常 0件
0002 v. 2 中央館 研究室-工
 		549.7/IN/2006(2) 0312007025190 通常 0件
No. 0001
巻号 v. 1
所蔵館 中央館
配置場所 研究室-工
請求記号 549.7/IN/2006(1)
資料ID 0312007025188
状態 通常
返却予定日
予約 0件
No. 0002
巻号 v. 2
所蔵館 中央館
配置場所 研究室-工
請求記号 549.7/IN/2006(2)
資料ID 0312007025190
状態 通常
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 2006 IEEE International Test Conference : Santa Clara, CA, USA, 22-27 October, 2006
出版・頒布事項 [New York] : Institute of Electrical and Electronics Engineers , c2006
形態事項 2 v. : ill. ; 28 cm
巻号情報
巻次等 : [set]
ISBN 1424402913
巻号情報
巻次等 v. 1
巻号情報
巻次等 v. 2
注記 IEEE Catalog Number: 06CH37787
注記 Includes bibliographical references and index
学情ID BA81320293
本文言語コード 英語
ISSN 10893539
著者標目リンク Institute of Electrical and Electronics Engineers <AU00092674>
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