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VLSI test principles and architectures : design for testability

edited by Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen. -- Elsevier Morgan Kaufmann Publishers, 2006. -- (The Morgan Kaufmann series in systems on silicon / Peter J. Ashenden, Wayne Wolf, series editors). <BB00346498>
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VLSI test principles and architectures : design for testability

edited by Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen. -- Elsevier Morgan Kaufmann Publishers, 2006. -- (The Morgan Kaufmann series in systems on silicon / Peter J. Ashenden, Wayne Wolf, series editors). <BB00346498>
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所蔵一覧 1件～3件（全3件）

No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 中央館 研究室-工
 		549.7/VL 0312007074734 通常 0件
0002 中央館 研究室-工
 		549.7/VL 0312007106681 通常 0件
0003 中央館 2F-洋書
 		549.7/VL 0312009005181 通常 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 中央館
配置場所 研究室-工
請求記号 549.7/VL
資料ID 0312007074734
状態 通常
返却予定日
予約 0件
No. 0002
巻号
所蔵館 中央館
配置場所 研究室-工
請求記号 549.7/VL
資料ID 0312007106681
状態 通常
返却予定日
予約 0件
No. 0003
巻号
所蔵館 中央館
配置場所 2F-洋書
請求記号 549.7/VL
資料ID 0312009005181
状態 通常
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 VLSI test principles and architectures : design for testability / edited by Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen
出版・頒布事項 Amsterdam : Elsevier Morgan Kaufmann Publishers , 2006
形態事項 xxx, 777 p. : ill. ; 24 cm
巻号情報
ISBN 9780123705976
書誌構造リンク The Morgan Kaufmann series in systems on silicon / Peter J. Ashenden, Wayne Wolf, series editors <BB00346499>//a
注記 Includes bibliographical references and index
学情ID BA77850034
本文言語コード 英語
著者標目リンク Wang, Laung-Terng
著者標目リンク Wu, Cheng-Wen, EE Ph. D.
著者標目リンク Wen, Xiaoqing
分類標目 LCC:TK7874.75
分類標目 DC22:621.39/5
件名標目等 Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing
件名標目等 Integrated circuits -- Very large scale integration -- Design
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