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2005 IEEE International Test Conference (ITC), 8-10 Novermber, 2005, Austin, TX

: [set], v. 1, v. 2. -- Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2005. <BB00330759>
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2005 IEEE International Test Conference (ITC), 8-10 Novermber, 2005, Austin, TX

: [set], v. 1, v. 2. -- Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2005. <BB00330759>
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所蔵一覧 1件～2件（全2件）

No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 v. 1 中央館 研究室-工
 		549.7/IN/2005(1) 0312006024152 通常 0件
0002 v. 2 中央館 研究室-工
 		549.7/IN/2005(2) 0312006024164 通常 0件
No. 0001
巻号 v. 1
所蔵館 中央館
配置場所 研究室-工
請求記号 549.7/IN/2005(1)
資料ID 0312006024152
状態 通常
返却予定日
予約 0件
No. 0002
巻号 v. 2
所蔵館 中央館
配置場所 研究室-工
請求記号 549.7/IN/2005(2)
資料ID 0312006024164
状態 通常
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 2005 IEEE International Test Conference (ITC), 8-10 Novermber, 2005, Austin, TX
出版・頒布事項 [Piscataway] : Institute of Electrical and Electronics Engineers , c2005
形態事項 2 v. : ill., ports. ; 28 cm
巻号情報
巻次等 : [set]
ISBN 0780390385
巻号情報
巻次等 v. 1
巻号情報
巻次等 v. 2
注記 IEEE Catalog Number: 05CH37661
注記 Includes bibliographical references and index
学情ID BA76528499
本文言語コード 英語
ISSN 10893539
著者標目リンク International Test Conference <AU00002977> (2005 : Austin, TX)
著者標目リンク IEEE Computer Society. Test Technology Technical Council <AU00002979>
著者標目リンク Institute of Electrical and Electronics Engineers <AU00092674>
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