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Proceedings : 23rd IEEE VLSI Test Symposium : 1-5 May, 2005, Palm Springs, California

sponsored by IEEE Computer Society Test Technology Technical Council (TTTC). -- IEEE Computer Society, 2005. <BB00334036>
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Proceedings : 23rd IEEE VLSI Test Symposium : 1-5 May, 2005, Palm Springs, California

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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 中央館 研究室-工
 		549.7/LE/23 0312006099231 通常 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 中央館
配置場所 研究室-工
請求記号 549.7/LE/23
資料ID 0312006099231
状態 通常
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Proceedings : 23rd IEEE VLSI Test Symposium : 1-5 May, 2005, Palm Springs, California / sponsored by IEEE Computer Society Test Technology Technical Council (TTTC)
URL http://ieeexplore.ieee.org/servlet/opac?punumber=9857
出版・頒布事項 Los Alamitos, Calif. : IEEE Computer Society , c2005
形態事項 xxv, 455 p. : ill. ; 28 cm
巻号情報
ISBN 0769523145
その他の標題 異なりアクセスタイトル:VTS 2005
その他の標題 異なりアクセスタイトル:VLSI Test Symposium
注記 "IEEE Computer Society Order Number P2314"--T.p. verso
注記 Includes bibliographical references and author index
学情ID BA73779302
本文言語コード 英語
著者標目リンク IEEE VLSI Test Symposium <AU00003368> (23rd : 2005 : Palm Springs, Calif.)
著者標目リンク IEEE Computer Society. Test Technology Technical Council <AU00002979>
件名標目等 Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing -- Congresses
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