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Proceedings : International Test Conference 2004

[sponsored by IEEE Computer Society, Test Technology Technical Council and IEEE Philadelphia Section]. -- International Test Conference, 2004. <BB00042721>
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Proceedings : International Test Conference 2004

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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 中央館 研究室-工
 		549.7/IN/2004 0312005044301 通常 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 中央館
配置場所 研究室-工
請求記号 549.7/IN/2004
資料ID 0312005044301
状態 通常
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Proceedings : International Test Conference 2004 / [sponsored by IEEE Computer Society, Test Technology Technical Council and IEEE Philadelphia Section]
出版・頒布事項 Washington, D.C. : International Test Conference , c2004
形態事項 xvi, 1459 p. : ill., ports. ; 28 cm
巻号情報
ISBN 0780385802
その他の標題 表紙タイトル:International Test Conference 2004 : proceedings : October 26-October 28, 2004, Charlotte Convention Center, Charlotte, NC, USA
注記 "2004 International Test Conference, our 35th"--P. 1
注記 IEEE Catalog Number: 04CH37586
注記 Includes bibliographical references and index
学情ID BA70122684
本文言語コード 英語
著者標目リンク International Test Conference <AU00002977> (35th : 2004 : Charlotte, N.C.)
著者標目リンク IEEE Computer Society. Test Technology Technical Council <AU00002979>
著者標目リンク Institute of Electrical and Electronics Engineers. Philadelphia Section <AU00002980>
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