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Proceedings, 22nd IEEE VLSI Test Symposium : 25-29 April 2004, Napa Valley, California

sponsored by IEEE Computer Society Test Technology Technical Council. -- IEEE Computer Society, 2004. <BB00034554>
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Proceedings, 22nd IEEE VLSI Test Symposium : 25-29 April 2004, Napa Valley, California

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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 中央館 研究室-工
 		549.7/IE/22 0312004081107 通常 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 中央館
配置場所 研究室-工
請求記号 549.7/IE/22
資料ID 0312004081107
状態 通常
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Proceedings, 22nd IEEE VLSI Test Symposium : 25-29 April 2004, Napa Valley, California / sponsored by IEEE Computer Society Test Technology Technical Council
出版・頒布事項 Los Alamitos, Calif. : IEEE Computer Society , c2004
形態事項 xxvii, 406 p. : ill. ; 28 cm
巻号情報
ISBN 0769521347
その他の標題 背表紙タイトル:VTS04
その他の標題 異なりアクセスタイトル:PR2134
注記 Includes bibliographical references and index
注記 "IEEE Computer Society order number PR2134" -- T. p. verso
学情ID BA67539723
本文言語コード 英語
ISSN 10930167
著者標目リンク IEEE VLSI Test Symposium <AU00003368> (22nd : 2004 : Napa Valley, Calif.)
著者標目リンク IEEE Computer Society. Test Technology Technical Council <AU00002979>
分類標目 DC20:621.39/5/0287
件名標目等 Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing -- Congresses
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