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Board and system test track

[sponsored by IEEE Computer Society, Test Technology Technical Council and IEEE Philadelphia Section]. -- International Test Conference, 2003. -- (Proceedings : International Test Conference 2003 / [sponsored by IEEE Computer Society, Test Technology Technical Council and IEEE Philadelphia Section]). <BB00031268>
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Board and system test track

[sponsored by IEEE Computer Society, Test Technology Technical Council and IEEE Philadelphia Section]. -- International Test Conference, 2003. -- (Proceedings : International Test Conference 2003 / [sponsored by IEEE Computer Society, Test Technology Technical Council and IEEE Philadelphia Section]). <BB00031268>
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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 中央館 研究室-工
 		549.7/IN/2003(2) 0312004018616 通常 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 中央館
配置場所 研究室-工
請求記号 549.7/IN/2003(2)
資料ID 0312004018616
状態 通常
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Board and system test track / [sponsored by IEEE Computer Society, Test Technology Technical Council and IEEE Philadelphia Section]
出版・頒布事項 Washington, D.C. : International Test Conference , c2003
形態事項 ii, 216 p. : ill. ; 28 cm
巻号情報
ISBN 0780381068
書誌構造リンク Proceedings : International Test Conference 2003 / [sponsored by IEEE Computer Society, Test Technology Technical Council and IEEE Philadelphia Section] <BB00031267>//a
その他の標題 異なりアクセスタイトル:Proceedings : Board and system test track : International Test Conference 2003
その他の標題 表紙タイトル:International Test Conference 2003 : Proceedings : Board and system test track : September 30-October 2, 2003, Charlotte Convention Center, Charlotte, NC, USA
注記 IEEE Catalog Number: 03CH37494
注記 Includes bibliographical references and index
学情ID BA65459044
本文言語コード 英語
著者標目リンク International Test Conference <AU00002977> (2003 : Charlotte, N.C.)
著者標目リンク IEEE Computer Society. Test Technology Technical Council <AU00002979>
著者標目リンク Institute of Electrical and Electronics Engineers. Philadelphia Section <AU00002980>
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