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Proceedings, 20th IEEE VLSI Test Symposium (VTS 2002) : 28 April-2 May 2002, Monterey, California
sponsored by IEEE Computer Society Test Technology Technical Council. -- IEEE Computer Society, 2002. <BB00015303>
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Proceedings, 20th IEEE VLSI Test Symposium (VTS 2002) : 28 April-2 May 2002, Monterey, California
sponsored by IEEE Computer Society Test Technology Technical Council. -- IEEE Computer Society, 2002. <BB00015303>
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1件~1件(全1件)
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No.
巻号
所蔵館
配置場所
請求記号
資料ID
状態
返却予定日
予約
0001
中央館
研究室-工
549.7/IE/20
0312002302522
通常
0件
No.
0001
巻号
所蔵館
中央館
配置場所
研究室-工
請求記号
549.7/IE/20
資料ID
0312002302522
状態
通常
返却予定日
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0件
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書誌詳細
標題および責任表示
Proceedings, 20th IEEE VLSI Test Symposium (VTS 2002) : 28 April-2 May 2002, Monterey, California / sponsored by IEEE Computer Society Test Technology Technical Council
出版・頒布事項
Los Alamitos, Calif. : IEEE Computer Society , c2002
形態事項
xxxvii, 452 p. : ill. ; 28 cm
巻号情報
ISBN
0769515703
その他の標題
異なりアクセスタイトル:PR01570
注記
Includes bibliographical references and index
注記
"IEEE Computer Society order number PR01570" -- T. p. verso
学情ID
BA5705997X
本文言語コード
英語
著者標目リンク
IEEE VLSI Test Symposium <AU00003368> (20th : 2002 : Monterey, Calif.)
著者標目リンク
IEEE Computer Society. Test Technology Technical Council <AU00002979>
分類標目
DC20:621.39/5/0287
件名標目等
Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing -- Congresses
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