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Proceedings, 20th IEEE VLSI Test Symposium (VTS 2002) : 28 April-2 May 2002, Monterey, California

sponsored by IEEE Computer Society Test Technology Technical Council. -- IEEE Computer Society, 2002. <BB00015303>
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Proceedings, 20th IEEE VLSI Test Symposium (VTS 2002) : 28 April-2 May 2002, Monterey, California

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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 中央館 研究室-工
 		549.7/IE/20 0312002302522 通常 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 中央館
配置場所 研究室-工
請求記号 549.7/IE/20
資料ID 0312002302522
状態 通常
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Proceedings, 20th IEEE VLSI Test Symposium (VTS 2002) : 28 April-2 May 2002, Monterey, California / sponsored by IEEE Computer Society Test Technology Technical Council
出版・頒布事項 Los Alamitos, Calif. : IEEE Computer Society , c2002
形態事項 xxxvii, 452 p. : ill. ; 28 cm
巻号情報
ISBN 0769515703
その他の標題 異なりアクセスタイトル:PR01570
注記 Includes bibliographical references and index
注記 "IEEE Computer Society order number PR01570" -- T. p. verso
学情ID BA5705997X
本文言語コード 英語
著者標目リンク IEEE VLSI Test Symposium <AU00003368> (20th : 2002 : Monterey, Calif.)
著者標目リンク IEEE Computer Society. Test Technology Technical Council <AU00002979>
分類標目 DC20:621.39/5/0287
件名標目等 Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing -- Congresses
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