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International Test Conference 2001 : proceedings, October 30 - November 1, 2001, Baltimore Convention Center, Baltimore, MD, USA

sponsored by IEEE Computer Society, Test Technology Technical Council and IEEE Philadelphia Section. -- International Test Conference, 2001. <BB00003329>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 中央館 研究室-工
549.7/IN/2001 0312002002344 通常 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 中央館
配置場所 研究室-工
請求記号 549.7/IN/2001
資料ID 0312002002344
状態 通常
返却予定日
予約 0件

書誌詳細

標題および責任表示 International Test Conference 2001 : proceedings, October 30 - November 1, 2001, Baltimore Convention Center, Baltimore, MD, USA / sponsored by IEEE Computer Society, Test Technology Technical Council and IEEE Philadelphia Section
出版・頒布事項 Washington, D.C. : International Test Conference , c2001
形態事項 xiv, 1201 p. : ill. ; 29 cm
巻号情報
ISBN 0780371690
その他の標題 異なりアクセスタイトル:01CH37260
注記 Description from cover
注記 "IEEE Catalog Number 01CH37260"--p. ii
注記 Includes bibliographical references and index
学情ID BA54697324
本文言語コード 英語
ISSN 10893539
著者標目リンク International Test Conference <AU00002977> (2001 : Baltimore, Md.)
著者標目リンク IEEE Computer Society. Test Technology Technical Council <AU00002979>
著者標目リンク Institute of Electrical and Electronics Engineers. Philadelphia Section <AU00002980>
件名標目等 Integrated circuits -- Testing -- Congresses
件名標目等 Automatic checkout equipment -- Congresses