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Proceedings : International Test Conference 2000, [October 3-5, 2000, New Atlantic City Convention Center, Atlantic City, NJ, USA]

[sponsored by IEEE Computer Society, Test Technology Technical Council and IEEE Philadelphia Section] ; : soft, : case, : microfiche. -- International Test Conference, 2000. <BB00324522>
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Proceedings : International Test Conference 2000, [October 3-5, 2000, New Atlantic City Convention Center, Atlantic City, NJ, USA]

[sponsored by IEEE Computer Society, Test Technology Technical Council and IEEE Philadelphia Section] ; : soft, : case, : microfiche. -- International Test Conference, 2000. <BB00324522>
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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 : case 中央館 研究室-工
 		549.7/IN/2000 0312000262375 通常 0件
No. 0001
巻号 : case
所蔵館 中央館
配置場所 研究室-工
請求記号 549.7/IN/2000
資料ID 0312000262375
状態 通常
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Proceedings : International Test Conference 2000, [October 3-5, 2000, New Atlantic City Convention Center, Atlantic City, NJ, USA] / [sponsored by IEEE Computer Society, Test Technology Technical Council and IEEE Philadelphia Section]
出版・頒布事項 Washington, D.C. : International Test Conference , c2000
形態事項 xiv, 1158 p. : ill. ; 29 cm
巻号情報
巻次等 : soft
ISBN 0780365461
巻号情報
巻次等 : case
ISBN 078036547X
巻号情報
巻次等 : microfiche
ISBN 0780365488
その他の標題 表紙タイトル:ITC : International Test Conference 2000 : proceedings
注記 "IEEE Catalog Number 00CH37159"--T.p. verso
注記 Includes bibliographies and index
学情ID BA49486625
本文言語コード 英語
ISSN 10893539
著者標目リンク International Test Conference (2000 : Atlantic City, NJ)
著者標目リンク IEEE Computer Society
著者標目リンク IEEE Computer Society. Test Technology Technical Council
著者標目リンク Institute of Electrical and Electronics Engineers. Philadelphia Section
件名標目等 Integrated circuits -- Testing -- Congresses
件名標目等 Automatic checkout equipment -- Congresses
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