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材料評価のための分析電子顕微鏡法

進藤大輔, 及川哲夫共著. -- 共立出版, 1999. <BB00235175>
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材料評価のための分析電子顕微鏡法

進藤大輔, 及川哲夫共著. -- 共立出版, 1999. <BB00235175>
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所蔵一覧 1件～3件（全3件）

No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 中央館 3F-東
 		549.97/SI 0311999236631 通常 0件
0002 中央館 3F-東
 		549.97/SI 0312008090632 通常 0件
0003 中央館 3F-東
 		549.97/SI 0312008140910 通常 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 中央館
配置場所 3F-東
請求記号 549.97/SI
資料ID 0311999236631
状態 通常
返却予定日
予約 0件
No. 0002
巻号
所蔵館 中央館
配置場所 3F-東
請求記号 549.97/SI
資料ID 0312008090632
状態 通常
返却予定日
予約 0件
No. 0003
巻号
所蔵館 中央館
配置場所 3F-東
請求記号 549.97/SI
資料ID 0312008140910
状態 通常
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 材料評価のための分析電子顕微鏡法 / 進藤大輔, 及川哲夫共著
ザイリョウ ヒョウカ ノ タメ ノ ブンセキ デンシ ケンビキョウホウ
出版・頒布事項 東京 : 共立出版 , 1999.5
形態事項 vi, 182p ; 26cm
巻号情報
ISBN 4320085248
その他の標題 異なりアクセスタイトル:材料評価のための分析電子顕微鏡法
ザイリョウ ヒョウカ ノ タメ ノ ブンセキ デンシ ケンビキョウ ホウ
注記 参考文献: 各章末
学情ID BA41742572
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 進藤, 大輔(1953-)
シンドウ, ダイスケ
著者標目リンク 及川, 哲夫(1951-)
オイカワ, テツオ
分類標目 電子工学 NDC8:549.97
分類標目 電子工学 NDC9:549.97
分類標目 科学技術 NDLC:M217
件名標目等 電子顕微鏡||デンシケンビキョウ
件名標目等 材料試験||ザイリョウシケン
件名標目等 電子顕微鏡||デンシケンビキョウ
件名標目等 材料試験||ザイリョウシケン
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