愛媛大学図書館
ログイン
  • 目録検索 目録検索 ▼
  • 利用者サービス Webサービス ▼
    • 利用状況・貸出延長
    • ブックマーク
    • お気に入り検索
    • レビュー履歴
    • タグ履歴
    • グループ学習室予約履歴
    • 新着アラート
    • ILL複写依頼
    • ILL貸借依頼
    • リクエスト(希望図書)

愛媛大学図書館

検索結果一覧へ戻る

Delay fault testing for VLSI circuits

Angela Krstić, Kwang-Ting (Tim) Cheng. -- Kluwer Academic Publishers, 1998. -- (Frontiers in electronic testing). <BB00315989>
登録タグ：
登録されているタグはありません
便利機能：
レビューを見る 詳細情報を見る
書誌URL：

Delay fault testing for VLSI circuits

Angela Krstić, Kwang-Ting (Tim) Cheng. -- Kluwer Academic Publishers, 1998. -- (Frontiers in electronic testing). <BB00315989>
登録タグ：
登録されているタグはありません
便利機能：
レビューを見る 詳細情報を見る
書誌URL：

所蔵一覧 1件～2件（全2件）

No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 中央館 研究室-工
 		549.7/KR 0311999000313 通常 0件
0002 中央館 研究室-工
 		549.7/KR 0312007115773 通常 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 中央館
配置場所 研究室-工
請求記号 549.7/KR
資料ID 0311999000313
状態 通常
返却予定日
予約 0件
No. 0002
巻号
所蔵館 中央館
配置場所 研究室-工
請求記号 549.7/KR
資料ID 0312007115773
状態 通常
返却予定日
予約 0件
このページのTOPへ

書誌詳細

標題および責任表示 Delay fault testing for VLSI circuits / Angela Krstić, Kwang-Ting (Tim) Cheng
出版・頒布事項 Boston : Kluwer Academic Publishers , c1998
形態事項 xii, 191 p. : ill. ; 24 cm
巻号情報
ISBN 0792382951
書誌構造リンク Frontiers in electronic testing//a
注記 Includes bibliographical references and index
学情ID BA39243809
本文言語コード 英語
著者標目リンク Krstić, Angela, 1965-
著者標目リンク Cheng, Kwang-Ting, 1961-
分類標目 LCC:TK7874.75
分類標目 DC21:621.39/5
件名標目等 Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing
件名標目等 Delay faults (Semiconducotrs)
このページのTOPへ
検索結果一覧へ戻る
このページのTOPへ

  • 関連情報

    関連資料

    他の検索サイトで探す

    他大学資料確認

    資料を取り寄せる

    • コピーの取り寄せ(コピー取り寄せ)
    • 図書の取り寄せ(現物借用)

    購入依頼

    この書誌のQRコード