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VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques
Stanley L. Hurst. -- Institution of Electrical Engineers, 1998. -- (IEE circuits, devices and systems series ; 9). <BB00026089>
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VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques
Stanley L. Hurst. -- Institution of Electrical Engineers, 1998. -- (IEE circuits, devices and systems series ; 9). <BB00026089>
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No.
巻号
所蔵館
配置場所
請求記号
資料ID
状態
返却予定日
予約
0001
中央館
研究室-工
549.7/HU
0312003226552
通常
0件
No.
0001
巻号
所蔵館
中央館
配置場所
研究室-工
請求記号
549.7/HU
資料ID
0312003226552
状態
通常
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レビュー
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書誌詳細
標題および責任表示
VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques / Stanley L. Hurst
出版・頒布事項
London : Institution of Electrical Engineers , c1998
形態事項
xx, 532 p. : ill ; 24cm
巻号情報
ISBN
0852969015
書誌構造リンク
IEE circuits, devices and systems series <BB00026090> 9//a
注記
Bibliography: p. 510-514
注記
Includes index
学情ID
BA37184301
本文言語コード
英語
著者標目リンク
Hurst, S. L. <AU00020924>
著者標目リンク
Institution of Electrical Engineers <AU00050657>
分類標目
DC21:621.3950287
件名標目等
Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing
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