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A unified approach for timing verification and delay fault testing

Mukund Sivaraman and Andrzej J. Strojwas ; alk. paperr. -- Kluwer Academic, 1998. <BB00312074>
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A unified approach for timing verification and delay fault testing

Mukund Sivaraman and Andrzej J. Strojwas ; alk. paperr. -- Kluwer Academic, 1998. <BB00312074>
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所蔵一覧 1件～2件（全2件）

No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 alk. paperr 中央館 研究室-工
 		548.2/SI 0311998023159 通常 0件
0002 alk. paperr 中央館 研究室-工
 		548.2/SI 0311998056967 通常 0件
No. 0001
巻号 alk. paperr
所蔵館 中央館
配置場所 研究室-工
請求記号 548.2/SI
資料ID 0311998023159
状態 通常
返却予定日
予約 0件
No. 0002
巻号 alk. paperr
所蔵館 中央館
配置場所 研究室-工
請求記号 548.2/SI
資料ID 0311998056967
状態 通常
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 A unified approach for timing verification and delay fault testing / Mukund Sivaraman and Andrzej J. Strojwas
出版・頒布事項 Boston : Kluwer Academic , c1998
形態事項 xv, 155 p. : ill. ; 25 cm
巻号情報
巻次等 alk. paperr
ISBN 0792380797
注記 Includes bibliographical references (p. [139]-152) and index
学情ID BA35140407
本文言語コード 英語
著者標目リンク Sivaraman, Mukund, 1970-
著者標目リンク Strojwas, Andrzej J.
分類標目 LCC:TK7874.65
分類標目 DC21:621.39/5/0287
件名標目等 Digital integrated circuits -- Design and construction -- Data processing
件名標目等 Digital integrated circuits -- Testing
件名標目等 Electric fault location
件名標目等 Integrated circuits -- Verification
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