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Defect oriented testing for CMOS analog and digital circuits

by Manoj Sachdev. -- Kluwer Academic Publishers, 1998. -- (Frontiers in electronic testing 10). <BB00312857>
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Defect oriented testing for CMOS analog and digital circuits

by Manoj Sachdev. -- Kluwer Academic Publishers, 1998. -- (Frontiers in electronic testing 10). <BB00312857>
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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 中央館 研究室-工
 		549.7/SA 0311998057029 通常 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 中央館
配置場所 研究室-工
請求記号 549.7/SA
資料ID 0311998057029
状態 通常
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Defect oriented testing for CMOS analog and digital circuits / by Manoj Sachdev
出版・頒布事項 Boston, Mass. : Kluwer Academic Publishers , c1998
形態事項 xiv, 308 p. : ill. ; 25 cm
巻号情報
ISBN 0792380835
書誌構造リンク Frontiers in electronic testing 10//a
注記 Includes bibliographical references and index
学情ID BA34964417
本文言語コード 英語
著者標目リンク Sachdev, Manoj
分類標目 LCC:TK7871.99.M44
分類標目 DC21:621.3815
件名標目等 Metal oxide semiconductors, Complementary -- Testing
件名標目等 Metal oxide semiconductors, Complementary -- Defects
件名標目等 Linear integrated circuits -- Testing
件名標目等 Digital integrated circuits -- Testing
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