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Proceedings : International Test Conference 1997
[sponsored by IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee and IEEE Philadelphia section] ; : soft - :CD-ROM. -- International Test Conference, 1997. <BB00314830>
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Proceedings : International Test Conference 1997
[sponsored by IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee and IEEE Philadelphia section] ; : soft - :CD-ROM. -- International Test Conference, 1997. <BB00314830>
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1件~1件(全1件)
10件
20件
50件
100件
No.
巻号
所蔵館
配置場所
請求記号
資料ID
状態
返却予定日
予約
0001
: case
中央館
研究室-工
549.7/IN
0311998194902
通常
0件
No.
0001
巻号
: case
所蔵館
中央館
配置場所
研究室-工
請求記号
549.7/IN
資料ID
0311998194902
状態
通常
返却予定日
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0件
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レビュー
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書誌詳細
標題および責任表示
Proceedings : International Test Conference 1997 / [sponsored by IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee and IEEE Philadelphia section]
出版・頒布事項
Washington, D.C. : International Test Conference , c1997
形態事項
xiv, 1054 p. : ill. ; 29 cm
巻号情報
巻次等
: soft
ISBN
0780342097
巻号情報
巻次等
: case
ISBN
0780342100
巻号情報
巻次等
:microfiche
ISBN
0780342119
巻号情報
巻次等
:CD-ROM
ISBN
0780342127
その他の標題
標題紙タイトル:ITC : International Test Conference 1997
その他の標題
背表紙タイトル:1997 IEEE International Test Conference
その他の標題
表紙タイトル:Test and design validity
その他の標題
異なりアクセスタイトル:97CH36126
注記
"November 1-6, 1997, Sheraton Washington Hotel, Washington, D.C. USA"--Cover
注記
"IEEE Catalog Number 97CH36126."--T.p. verso
注記
Includes bibliographies and index
学情ID
BA34937480
本文言語コード
英語
著者標目リンク
International Test Conference (27th : 1996 : Washington)
著者標目リンク
IEEE Computer Society
件名標目等
Integrated circuits -- Testing -- Congresses
件名標目等
Automatic checkout equipment -- Congresses
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