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Proceedings : International Test Conference 1997

[sponsored by IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee and IEEE Philadelphia section] ; : soft - :CD-ROM. -- International Test Conference, 1997. <BB00314830>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 : case 中央館 研究室-工
549.7/IN 0311998194902 通常 0件
No. 0001
巻号 : case
所蔵館 中央館
配置場所 研究室-工
請求記号 549.7/IN
資料ID 0311998194902
状態 通常
返却予定日
予約 0件

書誌詳細

標題および責任表示 Proceedings : International Test Conference 1997 / [sponsored by IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee and IEEE Philadelphia section]
出版・頒布事項 Washington, D.C. : International Test Conference , c1997
形態事項 xiv, 1054 p. : ill. ; 29 cm
巻号情報
巻次等 : soft
ISBN 0780342097
巻号情報
巻次等 : case
ISBN 0780342100
巻号情報
巻次等 :microfiche
ISBN 0780342119
巻号情報
巻次等 :CD-ROM
ISBN 0780342127
その他の標題 標題紙タイトル:ITC : International Test Conference 1997
その他の標題 背表紙タイトル:1997 IEEE International Test Conference
その他の標題 表紙タイトル:Test and design validity
その他の標題 異なりアクセスタイトル:97CH36126
注記 "November 1-6, 1997, Sheraton Washington Hotel, Washington, D.C. USA"--Cover
注記 "IEEE Catalog Number 97CH36126."--T.p. verso
注記 Includes bibliographies and index
学情ID BA34937480
本文言語コード 英語
著者標目リンク International Test Conference (27th : 1996 : Washington)
著者標目リンク IEEE Computer Society
件名標目等 Integrated circuits -- Testing -- Congresses
件名標目等 Automatic checkout equipment -- Congresses