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Testability concepts for digital ICs : the macro test approach

by F.P.M. Beenker, R.G. Bennetts, A.P. Thijssen ; : hard : alk. paper. -- Kluwer Academic Publishers, 1995. -- (Frontiers in electronic testing). <BB00313673>
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Testability concepts for digital ICs : the macro test approach

by F.P.M. Beenker, R.G. Bennetts, A.P. Thijssen ; : hard : alk. paper. -- Kluwer Academic Publishers, 1995. -- (Frontiers in electronic testing). <BB00313673>
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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 : hard : alk. paper 中央館 研究室-工
 		549.7/BE 0311998095511 通常 0件
No. 0001
巻号 : hard : alk. paper
所蔵館 中央館
配置場所 研究室-工
請求記号 549.7/BE
資料ID 0311998095511
状態 通常
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Testability concepts for digital ICs : the macro test approach / by F.P.M. Beenker, R.G. Bennetts, A.P. Thijssen
出版・頒布事項 Dordrecht ; Boston : Kluwer Academic Publishers , c1995
形態事項 ix, 212 p. : ill. ; 25 cm
巻号情報
巻次等 : hard : alk. paper
ISBN 0792396588
書誌構造リンク Frontiers in electronic testing//a
注記 Includes bibliographical references (p. 197-205)
学情ID BA27464389
本文言語コード 英語
著者標目リンク Beenker, F. P. M. (Frans P. M.)
著者標目リンク Bennetts, R. G.
著者標目リンク Thijssen, A. P.
分類標目 LCC:TK7874.65
分類標目 DC20:621.3815/48
件名標目等 Digital integrated circuits -- Testing
件名標目等 Automatic checkout equipment
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