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Digital systems testing and testable design

Miron Abramovici, Melvin A. Breuer, Arthur D. Friedman. -- IEEE Press, 1990. <BB00312278>
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Digital systems testing and testable design

Miron Abramovici, Melvin A. Breuer, Arthur D. Friedman. -- IEEE Press, 1990. <BB00312278>
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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 中央館 研究室-工
 		549.7/AB 0311998033463 通常 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 中央館
配置場所 研究室-工
請求記号 549.7/AB
資料ID 0311998033463
状態 通常
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Digital systems testing and testable design / Miron Abramovici, Melvin A. Breuer, Arthur D. Friedman
出版・頒布事項 Piscataway, NJ : IEEE Press
出版・頒布事項 New York : Institute of Electrical and Electronics Engineers , c1990
形態事項 xvii, 652 p. : ill. ; 26 cm
巻号情報
ISBN 0780310624
注記 Includes bibliographical references (p. 644-645) and index
注記 IEEE order no. PC04168
学情ID BA27278679
本文言語コード 英語
著者標目リンク Abramovici, Miron
著者標目リンク Breuer, Melvin A.
著者標目リンク Friedman, Arthur D.
分類標目 LCC:TK7874
分類標目 DC20:621.381/5
件名標目等 Digital integrated circuits -- Testing
件名標目等 Digital integrated circuits -- Design and construction
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