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Proceedings : International Test Conference 1994

: soft, : case. -- International Test Conference, 1994. <BB00298382>
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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 : case 中央館 研究室-工
 		549.7/IN 0112195014800 通常 0件
No. 0001
巻号 : case
所蔵館 中央館
配置場所 研究室-工
請求記号 549.7/IN
資料ID 0112195014800
状態 通常
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Proceedings : International Test Conference 1994
出版・頒布事項 Altoona, PA : International Test Conference , c1994
形態事項 xii, 1033 p. : ill., ports. ; 29 cm
巻号情報
巻次等 : soft
ISBN 0780321022
巻号情報
巻次等 : case
ISBN 0780321030
その他の標題 標題紙タイトル:ITC : International Test Conference 1994
その他の標題 背表紙タイトル:1994 IEEE International Test Conference
注記 "IEEE Catalog Number 94CH3483-5."--T.p. verso
注記 Includes bibliographies and index
学情ID BA24448706
本文言語コード 英語
著者標目リンク International Test Conference
件名標目等 Integrated circuits -- Testing -- Congresses
件名標目等 Automatic checkout equipment -- Congresses
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