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Defect analysis in electron microscopy

M.H. Loretto and R.E. Smallman ; cased edition, Science Paperback edition. -- Chapman and Hall, 1975. -- (Science paperbacks ; 121). <BB30226547>
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Defect analysis in electron microscopy

M.H. Loretto and R.E. Smallman ; cased edition, Science Paperback edition. -- Chapman and Hall, 1975. -- (Science paperbacks ; 121). <BB30226547>
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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 Science Paperback edition 中央館 書庫5層-洋
 		459.9/L2 0112175643536 通常 0件
No. 0001
巻号 Science Paperback edition
所蔵館 中央館
配置場所 書庫5層-洋
請求記号 459.9/L2
資料ID 0112175643536
状態 通常
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Defect analysis in electron microscopy / M.H. Loretto and R.E. Smallman
出版・頒布事項 London : Chapman and Hall , 1975
形態事項 134 p. : incl., illus. ; 24 cm
巻号情報
ISBN 047054760X
巻号情報
巻次等 cased edition
ISBN 0412137607
巻号情報
巻次等 Science Paperback edition
ISBN 0412137704
書誌構造リンク Science paperbacks <BB00449560> 121//a
注記 "A Halsted Press book."
注記 Bibliography: p. 131
注記 Includes index
学情ID BA1401594X
本文言語コード 英語
著者標目リンク *Loretto, M. H. <AU10130660>
著者標目リンク Smallman, R. E. <AU10046101> joint author
分類標目 LCC:QD921
分類標目 DC:548/.84
件名標目等 Crystals -- Defects
件名標目等 Electron microscopy
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