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Neural models and algorithms for digital testing

by Srimat T. Chakradhar, Vishwani D. Agrawal, Michael L. Bushnell ; : acid-free paper. -- Kluwer Academic Publishers, 1991. -- (The Kluwer international series in engineering and computer science. SECS 140, VLSI, computer architecture and digital signal processing). <BB00296074>
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Neural models and algorithms for digital testing

by Srimat T. Chakradhar, Vishwani D. Agrawal, Michael L. Bushnell ; : acid-free paper. -- Kluwer Academic Publishers, 1991. -- (The Kluwer international series in engineering and computer science. SECS 140, VLSI, computer architecture and digital signal processing). <BB00296074>
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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 : acid-free paper 中央館 研究室-工
 		549.7/CH 0112194036070 通常 0件
No. 0001
巻号 : acid-free paper
所蔵館 中央館
配置場所 研究室-工
請求記号 549.7/CH
資料ID 0112194036070
状態 通常
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Neural models and algorithms for digital testing / by Srimat T. Chakradhar, Vishwani D. Agrawal, Michael L. Bushnell
出版・頒布事項 Boston : Kluwer Academic Publishers , c1991
形態事項 xii, 184 p. : ill. ; 25 cm
巻号情報
巻次等 : acid-free paper
ISBN 0792391659
巻号情報
ISBN 0792391659
書誌構造リンク The Kluwer international series in engineering and computer science. SECS 140, VLSI, computer architecture and digital signal processing//a
注記 Includes bibliographical references and index
学情ID BA12943049
本文言語コード 英語
著者標目リンク Chakradhar, Srimat T.
著者標目リンク Agrawal, Vishwani D., 1943-
著者標目リンク Bushnell, Michael L. (Michael Lee), 1950-
分類標目 LCC:TK7868.L6
分類標目 DC:621.39/5
件名標目等 Logic circuits -- Testing
件名標目等 Automatic checkout equipment
件名標目等 Digital integrated circuits -- Testing -- Data processing
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