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The Test access port and boundaryscan architecture

[edited by] Colin M. Maunder and Rodham E. Tulloss ; : case, : microfiche. -- IEEE Computer Society Press, 1990. -- (IEEE Computer Society Press tutorial). <BB00310445>
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The Test access port and boundaryscan architecture

[edited by] Colin M. Maunder and Rodham E. Tulloss ; : case, : microfiche. -- IEEE Computer Society Press, 1990. -- (IEEE Computer Society Press tutorial). <BB00310445>
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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 : case 中央館 研究室-工
 		549.3/TE 0112197060587 通常 0件
No. 0001
巻号 : case
所蔵館 中央館
配置場所 研究室-工
請求記号 549.3/TE
資料ID 0112197060587
状態 通常
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 The Test access port and boundaryscan architecture / [edited by] Colin M. Maunder and Rodham E. Tulloss
出版・頒布事項 Los Alamitos, Calif. : IEEE Computer Society Press , c1990
形態事項 xxii, 372 p. : ill., ports. ; 29 cm
巻号情報
巻次等 : case
ISBN 0818690704
巻号情報
巻次等 : microfiche
ISBN 0818660708
書誌構造リンク IEEE Computer Society Press tutorial//a
注記 Includes bibliographical references and index
学情ID BA12823105
本文言語コード 英語
著者標目リンク Maunder, Colin M.
著者標目リンク Tulloss, Rodham E.
分類標目 LCC:TK7867
分類標目 DC:621.381
件名標目等 Electronic circuits -- Testing -- Data processing
件名標目等 Computer architecture
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