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VLSI system test : cost versus quality : 1990 IEEE Test Symposium, April 10-11, 1990, Bally's Park Place Casino Hotel, Atlantic City, NJ

IEEE Computer Society Press, 1990. <BB00278894>
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VLSI system test : cost versus quality : 1990 IEEE Test Symposium, April 10-11, 1990, Bally's Park Place Casino Hotel, Atlantic City, NJ

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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 中央館 研究室-工
 		549.7/IE 0112191005049 通常 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 中央館
配置場所 研究室-工
請求記号 549.7/IE
資料ID 0112191005049
状態 通常
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 VLSI system test : cost versus quality : 1990 IEEE Test Symposium, April 10-11, 1990, Bally's Park Place Casino Hotel, Atlantic City, NJ
出版・頒布事項 [Los Alamitos, CA? : IEEE Computer Society Press , 1990]
形態事項 1 v. : ill. ; 28 cm
その他の標題 表紙タイトル:VLSI system test : cost vs. quality
注記 At head of title: IEEE Philadelphia Section. IEEE Computer Society, Test Technology Committee
注記 Includes bibliographical references
学情ID BA12135113
本文言語コード 英語
著者標目リンク IEEE Test Symposium
著者標目リンク IEEE Computer Society
著者標目リンク Institute of Electrical and Electronics Engineers. Philadelphia Section
著者標目リンク IEEE Computer Society. Test Technology Committee
件名標目等 Integrated circuits -- Testing -- Congresses
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