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ITC : International Test Conference : Meeting the tests of time, August 29-31, 1989, Sheraton Washington Hotel, Washington, DC

Sponsored by the IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee and IEEE Philadelphia Section. -- IEEE Computer Society Press, 1989. <BB00276133>
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ITC : International Test Conference : Meeting the tests of time, August 29-31, 1989, Sheraton Washington Hotel, Washington, DC

Sponsored by the IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee and IEEE Philadelphia Section. -- IEEE Computer Society Press, 1989. <BB00276133>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 中央館 研究室-工
 		549.7/IN 0112190028066 通常 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 中央館
配置場所 研究室-工
請求記号 549.7/IN
資料ID 0112190028066
状態 通常
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 ITC : International Test Conference : Meeting the tests of time, August 29-31, 1989, Sheraton Washington Hotel, Washington, DC / Sponsored by the IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee and IEEE Philadelphia Section
出版・頒布事項 Washington, D.C. ; Tokyo : IEEE Computer Society Press
出版・頒布事項 New York, N.Y. : Institute of Electrical and Electronics Engineers, c1989
形態事項 xxxiv, 959 p. : ill. ; 28 cm
巻号情報
ISBN 0818689625
その他の標題 背表紙タイトル:1989 IEEE International Test Conference
その他の標題 異なりアクセスタイトル:1962 89CH27425 264620X
注記 "IEEE Computer Society Order Number 1962"
注記 "IEEE Catalog Number 89CH2742-5"
注記 "SAN 264-620X"
注記 Includes bibliographies and index
学情ID BA10142876
本文言語コード 英語
著者標目リンク International Test Conference (20th : 1989 : Washington, DC)
著者標目リンク IEEE Computer Society. Test Technology Technical Committee
著者標目リンク Institute of Electrical and Electronics Engineers. Philadelphia Section
著者標目リンク Oberly, Raymon
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