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Proceedings of the 1st European Test Conference, Paris, April 12-14, 1989

pbk., microfiche, hard. -- IEEE Computer Society Press, 1989. <BB00273191>
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Proceedings of the 1st European Test Conference, Paris, April 12-14, 1989

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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 pbk. 中央館 研究室-工
 		549.7/EU/1 0112189061465 通常 0件
No. 0001
巻号 pbk.
所蔵館 中央館
配置場所 研究室-工
請求記号 549.7/EU/1
資料ID 0112189061465
状態 通常
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Proceedings of the 1st European Test Conference, Paris, April 12-14, 1989
出版・頒布事項 Washington, D.C. : IEEE Computer Society Press , c1989
形態事項 xiv, 417 p. : ill. ; 28 cm
巻号情報
巻次等 pbk.
ISBN 0818619376
巻号情報
巻次等 microfiche
ISBN 0818659378
巻号情報
巻次等 hard
ISBN 0818689374
注記 "[Sponsored by] Société des électriciens et des électroniciens, IEEE Computer Society [and] the Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc."
注記 "IEEE Computer Society order number 1937."
注記 "IEEE Catalog Number 89CH2696-3"
注記 Includes bibliographies and index
学情ID BA07686774
本文言語コード 英語
著者標目リンク European Test Conference (1st : 1989 : Paris, France)
著者標目リンク Société des électriciens et des électroniciens
著者標目リンク IEEE Computer Society
著者標目リンク Institute of Electrical and Electronics Engineers
分類標目 LCC:TK7874
分類標目 DC:621.381/548
件名標目等 Integrated circuits -- Testing -- Congresses
件名標目等 Automatic test equipment -- Congresses
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