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Test generation for VLSI chips : tutorial

[edited by] Vishwani D. Agrawal and Sharad C. Seth ; : casebound, : microfiche. -- IEEE Computer Society Press, 1988. <BB00271459>
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Test generation for VLSI chips : tutorial

[edited by] Vishwani D. Agrawal and Sharad C. Seth ; : casebound, : microfiche. -- IEEE Computer Society Press, 1988. <BB00271459>
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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 : casebound 中央館 研究室-工
 		549.7/TE 0112189037610 通常 0件
No. 0001
巻号 : casebound
所蔵館 中央館
配置場所 研究室-工
請求記号 549.7/TE
資料ID 0112189037610
状態 通常
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Test generation for VLSI chips : tutorial / [edited by] Vishwani D. Agrawal and Sharad C. Seth
出版・頒布事項 Washington, D.C. : IEEE Computer Society Press
出版・頒布事項 Los Angeles, CA : Order from IEEE Computer Society , c1988
形態事項 x, 401 p. : ill. ; 29 cm
巻号情報
巻次等 : casebound
ISBN 081868786X
巻号情報
巻次等 : microfiche
ISBN 0818647868
注記 A collection of reprints of articles originally published from 1967 to 1988
注記 Includes bibliographies
注記 "IEEE Computer Society order number 786."
注記 IEEE catalog number EH0278-2."
学情ID BA07449360
本文言語コード 英語
著者標目リンク Agrawal, Vishwani D., 1943-
著者標目リンク Seth, Sharad C.
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