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Computed electron micrographs and defect identification

A. K. Head ... [et al.] ; American Elsevier. -- North-Holland, 1973. -- (Defects in crystalline solids ; v. 7). <BB30044934>
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Computed electron micrographs and defect identification

A. K. Head ... [et al.] ; American Elsevier. -- North-Holland, 1973. -- (Defects in crystalline solids ; v. 7). <BB30044934>
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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 中央館 書庫5層-洋
 		459.9/S2/7 0112175305898 通常 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 中央館
配置場所 書庫5層-洋
請求記号 459.9/S2/7
資料ID 0112175305898
状態 通常
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Computed electron micrographs and defect identification / A. K. Head ... [et al.]
出版・頒布事項 Amsterdam ; London : North-Holland
出版・頒布事項 New York : American Elsevier , 1973
形態事項 x, 400 p. with illus ; 23 cm
巻号情報
ISBN 0720417570
巻号情報
巻次等 American Elsevier
ISBN 0444104623
書誌構造リンク Defects in crystalline solids <BB30042367> v. 7//a
注記 Bibliography: p. [387]-389
学情ID BA07250178
本文言語コード 英語
著者標目リンク Head, A. K. <AU10037699>
分類標目 LCC:QD921
分類標目 DC:548/.842/02854
件名標目等 Metals -- Defects -- Data processing
件名標目等 Electron microscopy -- Data processing
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