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Logic testing and design for testability

Hideo Fujiwara. -- MIT Press, 1985. -- (MIT Press series in computer systems). <BB00275011>
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Logic testing and design for testability

Hideo Fujiwara. -- MIT Press, 1985. -- (MIT Press series in computer systems). <BB00275011>
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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 中央館 研究室-工
 		549.3/FU 0112190014559 通常 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 中央館
配置場所 研究室-工
請求記号 549.3/FU
資料ID 0112190014559
状態 通常
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Logic testing and design for testability / Hideo Fujiwara
出版・頒布事項 Cambridge, Mass. : MIT Press , c1985
形態事項 x, 284 p. : ill. ; 24 cm
巻号情報
ISBN 0262060965
書誌構造リンク MIT Press series in computer systems//a
注記 Bibliography: p. [272]-278
注記 Includes index
学情ID BA0446462X
本文言語コード 英語
著者標目リンク 藤原, 秀雄(1946-)
著者標目リンク フジワラ, ヒデオ
分類標目 LCC:TK7868.L6
分類標目 DC:621.3815/37
件名標目等 Logic circuits -- Testing
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