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Integration of test with design and manufacturing : proceedings : International Test Conference, 1987, September 1,2,3, 1987, Sheraton Washington Hotel, Washington, D.C.

sponsored by the IEEE Computer Society, IEEE Philadelphia Section ; pbk.. -- Computer Society Press of the IEEE, 1987. <BB00264848>
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Integration of test with design and manufacturing : proceedings : International Test Conference, 1987, September 1,2,3, 1987, Sheraton Washington Hotel, Washington, D.C.

sponsored by the IEEE Computer Society, IEEE Philadelphia Section ; pbk.. -- Computer Society Press of the IEEE, 1987. <BB00264848>
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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 pbk. 中央館 研究室-工
 		548.2/IN/1987 0112188026007 通常 0件
No. 0001
巻号 pbk.
所蔵館 中央館
配置場所 研究室-工
請求記号 548.2/IN/1987
資料ID 0112188026007
状態 通常
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Integration of test with design and manufacturing : proceedings : International Test Conference, 1987, September 1,2,3, 1987, Sheraton Washington Hotel, Washington, D.C. / sponsored by the IEEE Computer Society, IEEE Philadelphia Section
出版・頒布事項 Washington, D.C. : Computer Society Press of the IEEE
出版・頒布事項 Los Angeles, CA : Order from Computer Society of the IEEE , c1987
形態事項 xxxi, 1151 p. : ill. ; 28 cm
巻号情報
巻次等 pbk.
ISBN 081860798X
巻号情報
ISBN 0818647981 (MICROFICHE)
巻号情報
ISBN 0818687983 (CASE)
注記 "IEEE catalog no. 87CH2347-2."
注記 "Computer Society order no. 789."
注記 Includes bibliographies and index
学情ID BA04374582
著者標目リンク International Test Conference
著者標目リンク IEEE Computer Society
著者標目リンク Institute of Electrical and Electronics Engineers. Philadelphia Section
分類標目 LCC:TK7874
分類標目 DC:621.381/73
件名標目等 Integrated circuits -- Testing -- Congresses
件名標目等 Electronic digital computers -- Circuits -- Testing -- Congresses
件名標目等 Automatic checkout equipment -- Congresses
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