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Diffraction and imaging techniques in material science

editors, S. Amelinckx, R. Gevers, J. Van Landuyt ; set, v. 1, v. 2. -- 2d, rev. ed. -- North-Holland, 1978. <BB30364480>
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Diffraction and imaging techniques in material science

editors, S. Amelinckx, R. Gevers, J. Van Landuyt ; set, v. 1, v. 2. -- 2d, rev. ed. -- North-Holland, 1978. <BB30364480>
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所蔵一覧 1件～2件（全2件）

No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 v. 1 中央館 書庫5層-洋
 		501.4/A2/1 0111176898219 通常 0件
0002 v. 2 中央館 書庫5層-洋
 		501.4/A2/2 0111176898220 通常 0件
No. 0001
巻号 v. 1
所蔵館 中央館
配置場所 書庫5層-洋
請求記号 501.4/A2/1
資料ID 0111176898219
状態 通常
返却予定日
予約 0件
No. 0002
巻号 v. 2
所蔵館 中央館
配置場所 書庫5層-洋
請求記号 501.4/A2/2
資料ID 0111176898220
状態 通常
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Diffraction and imaging techniques in material science / editors, S. Amelinckx, R. Gevers, J. Van Landuyt
版事項 2d, rev. ed
出版・頒布事項 Amsterdam ; New York : North-Holland : sole distributors for the U.S.A. and Canada, Elsevier North-Holland , 1978
形態事項 2 v. : ill. ; 23 cm
巻号情報
巻次等 set
ISBN 0444851305
巻号情報
巻次等 v. 1
ISBN 0444851283
巻号情報
巻次等 v. 2
ISBN 0444851291
内容著作注記 v. 1. Electron microscopy
内容著作注記 v. 2. Imaging and diffraction techniques
注記 Comprises new contributions and revised and updated papers originally presented at the International Summer Course on Material Science, Antwerp, 1969, and published in 1970 under title: Modern diffraction and imaging techniques in material science
注記 Includes bibliographical references and index
学情ID BA02904572
本文言語コード 英語
著者標目リンク Amelinckx, Severin <AU10184723>
著者標目リンク Gevers, R. <AU10184724>
著者標目リンク Landuyt, J. van <AU10184725>
著者標目リンク International Summer Course on Material Science <AU10184726> (1969 : Antwerp, Belgium)
分類標目 LCC:TA417.23
分類標目 DC:620.1/127
件名標目等 Electron microscopy -- Congresses
件名標目等 Electrons -- Diffraction -- Congresses
件名標目等 Imaging systems -- Congresses
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